SN74ABT18504PM Купить - TI Логический чип

Картинки только для справки.Точные характеристики следует получить из паспорта продукта.

SN74ABT18504PM

Scan Test Devices With 20Bit Universal Bus Transceivers 64-LQFP -40℃ to 85℃

Наличие: 239 шт. Гарантия оригинала

Адрес доставки:

Цена: ₽ 632.10

шт.

Купить

Цена действительна 24 часа

Высокий спрос на этой неделе

Производитель:

ЧипСити Номер продукта:

CC20293623

Категория продукта:

Логический чип

Дата доставки: 7 дней

3D модель

Оплата:

Обновлено 29.04.2026, 07:48:07(GMT+3)

Проверка качества компонентов

тдел качества компонентов ЧипСити поддерживает вышеупомянутые многочисленные методы проверки, чтобы гарантировать качество компонентов. Узнать больше >

Более 11 лет опыта в закупках

Сертифицированный поставщик (ISO)

1000+ клиентов в России

Поддержка малого MOQ

SN74ABT18504PM характеристики

Атрибут	Значение атрибута
Номенклатура	SN74ABT18504PM
Производитель	TI
ЧипСити Номер продукта	CC20293623
Жизненный Цикл Продукта	Active
Категория продукта	Логический чип
Даташит
3D модель	3D модель
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	64 Pin
Корпус/Пакет	LQFP-64
Напряжение Питания (DC)	4.50V ~ 5.50V
Количество Выходных Интерфейсов	20 Output
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Каналов	20 Channel
Количество Битов	20 Bit
Время Задержки Распространения	6.20 ns
Узлы Напряжения	5.00 V
Рассеяние Мощности	885 mW
Привод Выходного Тока	-500 µA
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
Длина	10.2 mm
Ширина	10.2 mm
Высота	1.45 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Упаковка	Tray
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99
	Показывать Просмотр аналоги замена

Аналоги товара

SN74ABT18504PM описание продукта

The SN54ABT18504 and SN74ABT18504 scan test devices with 20-bit universal bus transceivers are members of the Texas Instruments SCOPETM testability IC family. This family of devices supports IEEE Standard 1149.1-1990 boundary scan to facilitate testing of complex circuit board assemblies. Scan access to the test circuitry is accomplished via the 4-wire test access port (TAP) interface.
In the normal mode, these devices are 20-bit universal bus transceivers that combine D-type latches and D-type flip-flops to allow data flow in transparent, latched, or clocked modes. The test circuitry can be activated by the TAP to take snapshot samples of the data appearing at the device pins or to perform a self test on the boundary test cells. Activating the TAP in the normal mode does not affect the functional operation of the SCOPETM universal bus transceivers.
Data flow in each direction is controlled by output-enable ( and ), latch-enable (LEAB and LEBA), clock-enable ( and ), and clock (CLKAB and CLKBA) inputs. For A-to-B data flow, the device operates in the transparent mode when LEAB is high. When LEAB is low, the A-bus data is latched while is high and/or CLKAB is held at a static low or high logic level. Otherwise, if LEAB is low and is low, A-bus data is stored on a low-to-high transition of CLKAB. When is low, the B outputs are active. When is high, the B outputs are in the high-impedance state. B-to-A data flow is similar to A-to-B data flow but uses the , LEBA, , and CLKBA inputs.
In the test mode, the normal operation of the SCOPETM universal bus transceivers is inhibited, and the test circuitry is enabled to observe and control the I/O boundary of the device. When enabled, the test circuitry performs boundary scan test operations according to the protocol described in IEEE Standard 1149.1-1990.
Four dedicated test pins are used to observe and control the operation of the test circuitry: test data input (TDI), test data output (TDO), test mode select (TMS), and test clock (TCK). Additionally, the test circuitry can perform other testing functions such as parallel signature analysis on data inputs and pseudo-random pattern generation from data outputs. All testing and scan operations are synchronized to the TAP interface.
Additional flexibility is provided in the test mode through the use of two boundary scan cells (BSCs) for each I/O pin. This allows independent test data to be captured and forced at either bus (A or B). A PSA/COUNT instruction is also included to ease the testing of memories and other circuits where a binary count addressing scheme is useful.
The SN54ABT18504 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74ABT18504 is characterized for operation from -40°C to 85°C.

Показывать

SN74ABT18504PM Даташит PDF

32 страницы, 506 КБ

02/13/2010

просматривать

SN74ABT18504PM Даташит PDF

33 страницы, 590 КБ

02/01/2015

просматривать

SN74ABT18504PM Другие ссылки

1 страницы, 140 КБ

06/15/2011

просматривать

Поиск деталей онлайн

Обновлено 2026/04/29 07:34:36(GMT+3)

Мы поддерживаем денежные переводы из различных банков.Если у вас есть другие потребности в оплате, вы можете связаться с менеджером по продажам. Клиент несет ответственность за расходы по доставке.
- Вы можете выбрать, будет ли стоимость доставки взиматься через ваш счет доставки или нами.

- Пожалуйста, заранее уточните у логистической компании стоимость доставки в отдаленные районы.

- (За доставку в эти районы может взиматься дополнительная плата ($35-$50)).

- Срок доставки: обычно от 2 до 7 рабочих дней.

- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа.
- Тщательно проверено и упаковано на складе ChipCity

- Вакуумная упаковка

- Антистатическая упаковка

- Ударопрочный пенопласт
- Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.

- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.

- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.

- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.

- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция (PSI).
- Входной контроль качества (IQC), 1000+ квалифицированных дилеров.

- Чипы тестируются авторитетными организациями, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.

- Контроль декапсуляции

- Рентгеновский контроль

- рентгенографический контроль

- Электрическое тестирование

- тестирование поверхности

- Склад цифровых компонентов, занимающий площадь 800 квадратных метров, с постоянной температурой и влажностью

Узнать больше >

Рекомендуемые детали
Горячие детали
Популярные детали
Недавно популярные детали

SN:H1.68879LO0V1Q0QC0S0