NSVJ3910SB3T1G Купить - ON Semiconductor Транзистор JFET

Картинки только для справки.Точные характеристики следует получить из паспорта продукта.

NSVJ3910SB3T1G

ON Semiconductor

Trans JFET N-CH 25V 50mA Automotive 3Pin CPH T/R

Наличие: 975 шт.

Адрес доставки: Москва

Цена: ₽ 19.39

шт.

Купить

*Запросить предложение по оптовому количеству?

*Акции меняются очень быстро Контакты немедленно!

Производитель:

ON Semiconductor

ЧипСити Номер продукта:

CC34130246

Категория продукта:

Транзистор JFET

3D модель

Оплата:

Обновлено 01.11.2025, 07:48:07(GMT+3)

Проверка качества компонентов

тдел качества компонентов ЧипСити поддерживает вышеупомянутые многочисленные методы проверки, чтобы гарантировать качество компонентов. Узнать больше >

NSVJ3910SB3T1G характеристики

Атрибут	Значение атрибута
Номенклатура	NSVJ3910SB3T1G
Производитель	ON Semiconductor
ЧипСити Номер продукта	CC34130246
Категория продукта	Транзистор JFET
Даташит
3D модель	3D модель
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	3 Pin
Корпус/Пакет	SOT-23-3
Рассеяние Мощности	400 mW
Напряжение Сток-исток (Vds)	25 V
Обратное напряжение пробоя	25 V
Входная емкость (Ciss)	6pF @5V(Vds)
Максимальная входная мощность	400 mW
Рабочая температура (Макс)	150 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	400 mW
Длина	2.9 mm
Ширина	1.6 mm
Высота	0.9 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 150℃ (TJ)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99
	Показывать Просмотр аналоги замена

NSVJ3910SB3T1G описание продукта

The NSVJ3910SB3 is a Single N-Channel Junction FET featuring Low Noise Amplification (LNA) suitable for automotive antenna applications. This device features high forward transfer admittance with low noise characteristics and provides high ESD immunity in comparison to current JFETs. This device is AEC-Q101 qualified and PPAP capable, making it suitable for automotive applications.
Features | | Benefits
---|---|---
| | | | |
High Forward Transfer Admittance
| |
Enabling the Reception of Radio Waves in the Small
High Breakdown Voltage
| |
Easy to Design
Pb-Free and RoHS compliance
| |
Environmental Consideration
Low Input Capacitance
| |
High Gain
Small Package CPH3 (2.9 mm x 2.8 mm x 0.9 mmt)
| |
Small and Sim Applied Set
Low Noise Figure
| |
AEC-Q101 qualified and PPAP capable
| |

Показывать

NSVJ3910SB3T1G Даташит PDF

NSVJ3910SB3T1G Другие Даташит

5 страницы, 546 КБ

просматривать

NSVJ3910SB3T1G Другие Даташит

5 страницы, 547 КБ

просматривать

NSVJ3910SB3T1G Чертежные схемы

2 страницы, 47 КБ

11/21/2011

просматривать

NSVJ3910SB3T1G Примечание по применению

6 страницы, 250 КБ

06/17/2016

просматривать

Поиск деталей онлайн

Обновлено 2025/11/01 07:34:36(GMT+3)

Мы поддерживаем денежные переводы из различных банков.Если у вас есть другие потребности в оплате, вы можете связаться с менеджером по продажам. Клиент несет ответственность за расходы по доставке.
- Вы можете выбрать, будет ли стоимость доставки взиматься через ваш счет доставки или нами.

- Пожалуйста, заранее уточните у логистической компании стоимость доставки в отдаленные районы.

- (За доставку в эти районы может взиматься дополнительная плата ($35-$50)).

- Срок доставки: обычно от 2 до 7 рабочих дней.

- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа.
- Тщательно проверено и упаковано на складе ChipCity

- Вакуумная упаковка

- Антистатическая упаковка

- Ударопрочный пенопласт
- Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.

- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.

- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.

- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.

- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция (PSI).
- Входной контроль качества (IQC), 1000+ квалифицированных дилеров.

- Чипы тестируются авторитетными организациями, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.

- Контроль декапсуляции

- Рентгеновский контроль

- рентгенографический контроль

- Электрическое тестирование

- тестирование поверхности

- Склад цифровых компонентов, занимающий площадь 800 квадратных метров, с постоянной температурой и влажностью

Узнать больше >

Рекомендуемые детали
Горячие детали
Популярные детали
Недавно популярные детали

SN:H1.36272LO62642V150Q0QC0S1