74HCT373N Купить - NXP Логический замок

Картинки только для справки.Точные характеристики следует получить из паспорта продукта.

74HCT373N

NXP

NXP 74HCT373N Latch, 74HCT373, Transparent, Tri State Non Inverted, 17ns, 6mA, DIP

Наличие: 1,259 шт.

Адрес доставки: Москва

Цена: ₽ 0.00

шт.

Купить

*Запросить предложение по оптовому количеству?

*Акции меняются очень быстро Контакты немедленно!

Производитель:

NXP

ЧипСити Номер продукта:

CC160957621

Категория продукта:

Логический замок

3D модель

Оплата:

Обновлено 17.06.2025, 07:48:07(GMT+3)

Проверка качества компонентов

тдел качества компонентов ЧипСити поддерживает вышеупомянутые многочисленные методы проверки, чтобы гарантировать качество компонентов. Узнать больше >

74HCT373N характеристики

Атрибут	Значение атрибута
Номенклатура	74HCT373N
Производитель	NXP
ЧипСити Номер продукта	CC160957621
Категория продукта	Логический замок
Даташит
3D модель	3D модель
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	20 Pin
Корпус/Пакет	DIP
Цифровой Логический Уровень	CMOS
Напряжение Питания (DC)	5.00 V, 5.50 V (max)
Выходной Ток	6 mA
Количество Цепей	8 Circuit
Количество Стежков	20 Position
Количество Битов	8 Bit
Полярность	Non-Inverting
Количество Вентилей	8 Gate
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Bulk
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
	Показывать Просмотр аналоги замена

74HCT373N описание продукта

The 74HCT373N is a 3-state octal D-type Transparent Latch with high-speed Si-gate CMOS device and is pin compatible with low-power Schottky TTL. It is specified in compliance with JEDEC standard no-7A. It features separate D-type inputs for each latch and 3-state outputs for bus oriented applications. A latch enable (LE) input and an output enable (OE) input are common to all latches. The latch consists of eight D-type transparent latches with 3-state true outputs. When LE is high, data at the Dn inputs enters the latches. In this condition the latches are transparent, that is a latch output will change state each time its corresponding D input changes.
Common 3-state output enable input
ESD protection HBM JESD22-A114F exceeds 2000V
ESD sensitive device, take proper precaution while handling the device.

Показывать

74HCT373N Даташит PDF

26 страницы, 173 КБ

просматривать

74HCT373N Другие Даташит

12 страницы, 240 КБ

просматривать

74HCT373N Чертежные схемы

52 страницы, 287 КБ

07/09/1997

просматривать

Поиск деталей онлайн

Обновлено 2025/06/17 07:34:36(GMT+3)

Мы поддерживаем денежные переводы из различных банков.Если у вас есть другие потребности в оплате, вы можете связаться с менеджером по продажам. Клиент несет ответственность за расходы по доставке.
- Вы можете выбрать, будет ли стоимость доставки взиматься через ваш счет доставки или нами.

- Пожалуйста, заранее уточните у логистической компании стоимость доставки в отдаленные районы.

- (За доставку в эти районы может взиматься дополнительная плата ($35-$50)).

- Срок доставки: обычно от 2 до 7 рабочих дней.

- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа.
- Тщательно проверено и упаковано на складе ChipCity

- Вакуумная упаковка

- Антистатическая упаковка

- Ударопрочный пенопласт
- Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.

- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.

- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.

- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.

- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция (PSI).
- Входной контроль качества (IQC), 1000+ квалифицированных дилеров.

- Чипы тестируются авторитетными организациями, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.

- Контроль декапсуляции

- Рентгеновский контроль

- рентгенографический контроль

- Электрическое тестирование

- тестирование поверхности

- Склад цифровых компонентов, занимающий площадь 800 квадратных метров, с постоянной температурой и влажностью

Узнать больше >

Рекомендуемые детали
Горячие детали
Популярные детали
Недавно популярные детали

SN:H1.29152LO50915V26Q0QC0S0