SN74LVC1G132DBVT Купить - TI Логический чип

Картинки только для справки.Точные характеристики следует получить из паспорта продукта.

SN74LVC1G132DBVT

NAND Gate 1Element 2IN CMOS 5Pin SOT-23 T/R

Наличие: 679 шт.

Адрес доставки: Москва

Цена: ₽ 30.72

шт.

Купить

*Запросить предложение по оптовому количеству?

*Акции меняются очень быстро Контакты немедленно!

Производитель:

ЧипСити Номер продукта:

CC9625219

Категория продукта:

Логический чип

3D модель

Оплата:

Обновлено 31.05.2024, 07:48:07(GMT+3)

Проверка качества компонентов

тдел качества компонентов ЧипСити поддерживает вышеупомянутые многочисленные методы проверки, чтобы гарантировать качество компонентов. Узнать больше >

SN74LVC1G132DBVT характеристики

Атрибут	Значение атрибута
Номенклатура	SN74LVC1G132DBVT
Производитель	TI
ЧипСити Номер продукта	CC9625219
Категория продукта	Логический чип
Даташит
3D модель	3D модель
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	5 Pin
Корпус/Пакет	SOT-23-5
Напряжение Питания (DC)	1.65V ~ 5.50V
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Выходной Ток	32 mA
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Стежков	5 Position
Количество Битов	1 Bit
Время Задержки Распространения	4.40 ns
Узлы Напряжения	5.00 V, 3.30 V, 2.50 V, 1.80 V
Количество Вентилей	1 Gate
Привод Выходного Тока	-1.00 mA
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	1.65V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	1.65 V
Длина	2.9 mm
Ширина	1.6 mm
Высота	1.15 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99
	Показывать Просмотр аналоги замена

SN74LVC1G132DBVT описание продукта

The SN74LVC1G132DBVT is a single 2-input NAND Gate with Schmitt-trigger input. The device with different input threshold levels for positive-going (VT+) and negative-going (VT-) signals. This device can be triggered from the slowest of input ramps and still give clean jitter-free output signals. This device is fully specified for partial-power-down applications using IOFF. The IOFF circuitry disables the outputs, preventing damaging current backflow through the device when it is powered down.
5.3ns at 3.3V Maximum TPD
Low power consumption
IOFF supports partial-power-down mode operation
Latch-up performance exceeds 100mA per JESD 78
ESD protection exceeds JESD 22

Показывать

SN74LVC1G132DBVT Даташит PDF

17 страницы, 871 КБ

07/25/2015

просматривать

SN74LVC1G132DBVT Другие Даташит

5 страницы, 249 КБ

09/15/2017

просматривать

SN74LVC1G132DBVT Каталог продукции

16 страницы, 434 КБ

06/20/2005

просматривать

Поиск деталей онлайн

Обновлено 2024/05/31 07:34:36(GMT+3)

Мы поддерживаем денежные переводы из различных банков.Если у вас есть другие потребности в оплате, вы можете связаться с менеджером по продажам. Клиент несет ответственность за расходы по доставке.
- Вы можете выбрать, будет ли стоимость доставки взиматься через ваш счет доставки или нами.

- Пожалуйста, заранее уточните у логистической компании стоимость доставки в отдаленные районы.

- (За доставку в эти районы может взиматься дополнительная плата ($35-$50)).

- Срок доставки: обычно от 2 до 7 рабочих дней.

- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа.
- Тщательно проверено и упаковано на складе ChipCity

- Вакуумная упаковка

- Антистатическая упаковка

- Ударопрочный пенопласт
- Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.

- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.

- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.

- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.

- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция (PSI).
- Входной контроль качества (IQC), 1000+ квалифицированных дилеров.

- Чипы тестируются авторитетными организациями, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.

- Контроль декапсуляции

- Рентгеновский контроль

- рентгенографический контроль

- Электрическое тестирование

- тестирование поверхности

- Склад цифровых компонентов, занимающий площадь 800 квадратных метров, с постоянной температурой и влажностью

Узнать больше >

Рекомендуемые детали
Горячие детали
Популярные детали
Недавно популярные детали

SN:H4.6643LO64928V13Q0QC0S0